ウィスファクについて
Wafer Inspection Equipment System
ウェハ生産工程で発生しうる様々なウェハ欠陥を検知することができます。
優れた不良検出アルゴリズムを適用し、欠陥の検出可能性を持続的に高めています。
1. Air Pocket Inspection
Learn moreIIM-3020 | IIM-3010 | IIM-2010
2. Edge/Surface Inspection
Learn moreESIS-3000 | EIS-3000
3. Other
Learn more3-1. Final Sorter
8 Load Port, 7 Load Port-1F, 4/2 Load Port IWS-3000-8L(8つのロードポート), IWS-3000-7L1F(7つのロードポート1つの反転機) フリップロボットを適用しウェハを反転させることができます。 Open Cassette, FOSB, FOUPの全てのタイプに対応しており、使われるキャリアタイプ(Open, FOSB, FOUP)を自動的に区別し、オペレーターによるミスを防止します。
IWS-3000(8Load Port) | IWS-3000(7Load Port 1Flipper) | IMS-3000(4Load Port) | IMS-3000(2Load Port)
3-2. Cu-haze, Edge/DSOD, Edge/Cu-haze
CHAC-3000, EDIS-3000, ECIS-3000はSi WaferのEdge欠陥及びSurfaceのHaze Pattern, COP(Crystal Originated Pits), ヘイズパターンを検出する装置です。
CHAC-3000 | EDIS-3000 | ECIS-3000