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제품 분류 상단 설명

Edge/Surface Inspection Equipment

300mm / 200mm Silicon wafer Edge/Surface Inspection Equipment

제품 분류 상단 설명

ESIS-3000はEdge / Notch / Surface, EIS-3000はEdge / Notch検査を行う装置としてお客様のご希望通りの機能を遂行します。
圧倒的な技術の差でウェハの様々なDefectsを検出することができます。また、国内の企業と技術提携をすることでグローバル競争でも先制的なマーケットリーダーとして多くのお客様からご満足いただいています。この製品を活用すればこれまでに発見できなかった様々な形態のDecectsを見ることができます。

Edge Defects

Classification Contamination / Crack / Chip

Notch Defects

Illumination control (Upper Bevel/Lower Bevel/Apex)

Surface Defects

Pin Hole / PIT / Particle

제품 목록

ESIS-3000

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EIS-3000D

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EIS-3000

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추구하는 인재상

私たちはこれまでお客様が検出しきれなかった小さいDefectひとつまで検出し
完璧な状態のWaferを生産できるように、多様な技術を発展させられるように、
努力を惜しまずひたすら走り続けています。