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제품 분류 상단 설명

Air Pocket Inspection Equipment

IIM-3020/IIM-3010 : 300mm Air Pocket Inspection Equipment
IIM-2010 : 200mm Air Pocket Inspection Equipment

제품 분류 상단 설명

優れた欠陥検出アルゴリズムを適用しAir-pocket以外にもウェハ生産工程で発生しうるBump, Through-holeなどの欠陥を同時に検出することができます。
精密工学システムを利用してイメージのピクセル分解能を改善し、高い水準のイメージ処理アルゴリズムを多数適用し直径20㎛の微細な欠陥ももれなく検出できる超精密検出システムを具現化しました。
検出されたイメージは欠陥自動判定アルゴリズムで欠陥の種類が自動的に分類され、良/不良判定が自動的に行われます。
ADEC(Automatic Defect Classification)アルゴリズムは優れたパターン認識アルゴリズムを適用し、高い水準の信頼度を提供します。

Inspection Defects

Buried Air-pocket, Surface Bump, Through-Hole

제품 목록

IIM-3020

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IIM-3010

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IIM-2010

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추구하는 인재상

私たちはこれまでお客様が検出しきれなかった小さいDefectひとつまで検出し
完璧な状態のWaferを生産できるように、多様な技術を発展させられるように、
努力を惜しまずひたすら走り続けています。