介绍制品
Edge/Surface Inspection Equipment
Edge Defects
Classification Contamination / Crack / Chip
Notch Defects
Illumination control (Upper Bevel/Lower Bevel/Apex)
Surface Defects
Pin Hole / PIT / Particle
ESIS-3000
EIS-3000
我们检测出之前顾客无法检测到的一个小Defect, 为了能够生产完美的Wafer,各种技术发展的努力一刻也不停歇。